在
雷達液位計的樹(shù)脂裝置上,原料C5經(jīng)過(guò)聚合反應,中和水洗,閃蒸后,利用氣提塔去除反應液中的低聚物,由于該液體溫度較高(300℃),粘度也很高,同時(shí),由于采用飽和蒸汽通過(guò)安裝在塔釜的盤(pán)管加熱液體,導致在液面產(chǎn)生爆沸現象,存在許多泡沫,在液面和填料之間存在水汽。很顯然,一些接觸式的測量?jì)x表難以達到要求,我們也曾嘗試采用雙法蘭差壓變送器,測量誤差較大,在裝置停車(chē)以后,變送器膜片表面粘附上大量的聚合物,使變送器極易損壞,所以沒(méi)有成功。后來(lái),我們嘗試采用
雷達液位計測量,取得了很好的效果,由于考慮到在塔體上沒(méi)有垂直安裝位置,故采用了如圖2的側面安裝方式,加了一段特別制作的90°微波導波管,使圓錐型天線(xiàn)徑向與液面平行,由于測量的數據準確反映了真實(shí)液面,確保了該塔的安全穩定操作。在測量中,我們利用
雷達液位計的 PC-CAT功能,利用筆記本電腦通過(guò)串行通訊接口,采用調試軟件窗口觀(guān)察微波信號的強弱,把泡沫的干擾予以確認后,通過(guò)加大閾值將泡沫信號濾波后成功去除。
為了確保雷達圓錐型天線(xiàn)表面不被粘度很高的液體粘附在上面和溫度偏高影響儀表的穩定,在導波管與表體結合部安裝了冷卻和氮氣吹掃口。
雷達液位計測量的外部影響因素:
1、熱干擾
電廠(chǎng)運行中為熱力設備會(huì )造成很多的發(fā)熱量,這種發(fā)熱量從而造成周邊儀器及其工作溫度的轉變,這就是說(shuō)人們常說(shuō)的熱干擾,這種干擾都是對雷達液位計的元器件造成危害,深化造成精確測量不精準等難題。
2、光干擾
光的干擾關(guān)鍵取決于半導體材料構件,用于操縱儀器的構件之中很多全是由半導體器件做成,而半導體材料元器件在遭受光的危害就會(huì )更改其導電率能,與此同時(shí),雷達液位計的一切正常應用也就遭受了危害。